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■ar |
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■a芯片测试与安全■Axin pian ce shi yu an quan■f王虹飞编著 |
| 210 |
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■a北京■c机械工业出版社■d2025 |
| 215 |
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■a207页■c图■d26cm |
| 225 |
2_ |
■a高等教育网络空间安全专业系列教材■Agao deng jiao yu wang luo kong jian an q+...... |
| 300 |
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■a机工教育 双色印刷 新形态教材 |
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■a有书目 (第203-207页) |
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■a本书全面介绍了芯片测试与安全的基础理论与核心技术, 包括故障模型、测试矢量生成、可测试性设计、扫描设计和内建自测试,+...... |
| 410 |
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■12001 ■a高等教育网络空间安全专业系列教材 |
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■a芯片■j教材■x测试■x高等教育■Axin pian |
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■a信息安全■j教材■x高等教育■Axin xi an quan |
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■a王虹飞■4编著■Awang hong fei |
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