文献类型:中文图书 浏览次数:40
  • 题名:半导体测试技术原理与应用
  • 责任者:刘新福, 杜占平, 李为民编著
  • 出版社冶金工业出版社
  • 出版年:2007
  • ISBN:978-7-5024-4101-2
  • 定价:28.00
  • 载体形态项:304页 21cm
  • 个人责任者:刘新福编著、杜占平编著、李为民编著
  • 学科主题:半导体材料
  • 中图法分类号:TN304.07
  • 提要文摘附注:本书在介绍电学参数测试原理的基础上,重点介绍了具有国际先进水平的国内外首台微区电阻率测试仪原理及应用,具有很高的实际应用价值。
  • 统一资源定位(URL):
总体评价(共0票) 评价
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 排架号 书刊状态 流通类型 流通状态

书籍封面

相关资源

图书馆微博二维码

图书馆微信公众号二维码